一、應用原理：(1)探針卡(probecard)探針卡是自動測試機與待測器件(DUT)之間的接口,在電學測試中通過探針傳遞進出wafer的電流。(2)探針臺(prober)因此測試對于檢驗芯片的功能性來說是一項非常重要的工作,硅片測試能夠分辨一個好的芯片和一個有缺陷的芯片。RDON是VDMOS在導通狀態下漏源之間的導通電阻。二、發展背景介紹：(1)半導體檢測貫穿半導體設計、晶圓制造、封裝三大流程。半導體制造工藝十分復雜，包含成百上千道工序，每一道出錯都可能影響芯片功效。為了提...

射頻探針是我們在片測試時不可少的工具，它在射頻產品生命周期中幾乎每一個階段都起著重要作用：從技術開發，模型參數提取，設計驗證及調試一直到小規模生產測試和最終的生產測試。通過使用射頻探針，人們便有可能在晶片層次上測量射頻組件的真正特性。這可以將研究和開發時間縮短并且大大降低開發新產品的成本。基本要求和工作原理：1、射頻探針的50-Ω平面傳輸線應當直接與DUT壓點相接觸而不用接觸導線。對于微帶線和隨后的共面探針設計，探針的接觸是用小的金屬球來實現的，這個金屬球要足夠大以保證可靠且...

ESD測試設備是專門測量電靜電放電所產生的能量、電壓和電流的儀器，具有以下特點：1、精確性：能夠測量靜電放電所產生的能量、電壓和電流，具有高度的準確性。2、穩定性：檢測結果穩定可靠，能夠長時間保持穩定性。3、多功能性：可以測量不同類型和功率等級的ESD，如人體模擬、直接放電和線間放電等，具有多種測試功能。4、高質量：采用高品質的材料和先進的制造工藝，具有高度的可靠性和耐用性。5、易于使用：操作簡單方便，用戶可以通過簡單的操作完成測試過程。6、自動化程度高：具有高度的自動化程度...

一、包含有太赫茲有源負載牽引系統、Maury微波校準件、Maury微波適配器、微波射頻測試附件、波導轉接頭、同軸轉接頭、高速調諧器Tuner、自動阻抗調諧器、負載牽引、Loadpull、阻抗-MT2000混合信號有源負載牽等。二、直流電源的基本功能是提供穩定純凈的直流電源，設置電壓源或電流源，功率分析測量功能，監測輸出電壓和電流，輸出電壓、電流、功率變化的高速分析采集記錄輸出電壓波形編輯，負載變化快速恢復功能脈沖電源設置。三、功率計是射頻信號功率測量的標準設備。功率計不能區分...

探針臺探針是電測試的接觸媒介，為電子五金元器件。探針臺可以將電探針、光學探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測試儀器、半導體測試系統配合來測試芯、半導體器件。這些測試可以很簡單，例如連續性或隔離檢查。也可以很復雜，包括微電路的完整功能測試。可以在將晶圓鋸成單個管芯之前或之后進行測試。在晶圓級別的測試允許制造商在生產過程中多次測試芯片器件，這可以提供有關哪些工藝步驟將缺陷引入產品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測試管芯，這在封裝成本相對于器件成本高的應用中很重要。探針臺還...

ESD測試即靜電放電測試。ESD測試在芯片和系統設計中是一項很重要的指標，通常暴露在外面的接口更要注意靜電防護。靜電放電(ESD)是一種自然現象，經驗表明，人在合成纖維的地毯上行走時，通過鞋子與地毯的摩擦，只要行走幾步，人體上積累的電荷就可以達到10-6庫侖以上(這取決于鞋子與地毯之間的電阻)，在這樣一個"系統"里(人/地毯/大地)的平均電容約為幾十至上百pF，可能產生的電壓要達到15kV。研究不同的人體產生的靜電放電，會有許多不同的電流脈沖，電流波形的上升時間在100ps至...

晶圓探針臺是在半導體開發和制造過程中用于檢測晶圓電氣特性的設備。電氣測試包括通過探針或探針卡將測試信號從測定器或測試儀發送到晶圓上的各個器件，并得到各器件的信號反饋。這個時候，用于晶圓搬送并與事先設定的位置進行接觸的設備稱為晶圓探針臺。它能夠滿足12英寸、8英寸晶圓的測試需求，通過高精度定位平臺、高剛性晶圓承載臺和高分辨率仰視相機(探針相機)及俯視相機(晶圓相機)，實現全自動上下晶圓料片、對針和高精度扎針，與測試機配合完成對晶圓上集成電路的品質檢測。圓測試是在半導體器件制造過...

探針臺是一種成熟的工具，用于測試硅晶片、裸片和開放式微芯片上的電路和設備。它允許用戶將電子、光學或射頻探針放置在設備上，然后測試該設備對外部刺激(電子、光學或射頻)的響應。這些測試可以很簡單，例如連續性或隔離檢查，也可以更復雜，涉及復雜微電路的全功能測試。它的應用行業有許多，常見的包括半導體、光電以及集成電路等行業，半導體企業不僅有效促進了經濟發展。主要用于半導體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關技術領域的電、磁學特性測試，能夠提供磁場或變溫環境，并進行高精度的直...